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透射电镜 测试介绍
透射电镜测试（TEM）是一种利用电子束穿透样品并由样品下方的电子探测器接收透射电子的高分辨率显微技术。它主要用于观察样品的微观结构和性质，具有极高的分辨率，可以达到原子级别。
TEM能够揭示材料的晶体结构，包括晶格参数、晶界、相界等，观察到材料中的缺陷，如位错、空位、堆垛层错等，特别适合于研究纳米尺度的材料结构，如纳米颗粒、纳米线、纳米管等。通过能量色散X射线光谱技术，TEM可以进行元素的定性和定量分析，分析样品中元素的化学状态，如氧化态。TEM可以进行电子衍射分析，从而获得材料的晶体学信息，提供样品中元素的化学和结构信息，如电子能级结构。TEM还可以进行原位实验，观察材料在加热、冷却、应力作用等条件下的动态变化，捕捉到材料结构随时间的变化过程。
中科检测具备透射电镜测试资质能力，可以出具CMA、CNAS检测报告。
透射电镜测试 服务内容
1、成分分析：透射电镜可以通过观察透射电子的吸收和散射情况，来确定样品的成分。利用不同化学物质对电子的散射和吸收的差异，可以获得样品的能谱图像，进而分析样品中的元素种类和含量。
2、形貌观察：透射电镜还可以用来观察化学物质的形貌。通过调节电子束的聚焦和透射模式，可以观察到样品的表面形貌以及微观结构，如纳米颗粒、薄膜厚度等。
3、结构研究：透射电镜可以用来研究材料的晶体结构和外形。通过观察透射的电子的衍射图案，可以确定晶体的晶胞参数、晶面指数等信息。同时，透射电镜还可以观察到有关晶格缺陷、原子排列和晶界等结构信息。
透射电镜 测试标准
GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
GB/T 42208-2022 纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法
YS/T 1623-2023 铝合金时效析出相的检验 透射电镜法
