光电子器件可靠性试验

光电子器件可靠性试验

中科检测可靠性实验中心具备各种光电子器件产品的环境试验能力，为通信设备用的光电子器件提供专业的可靠性试验服务。
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光电子器件可靠性试验 试验背景

通信设备用的光电子器件的可靠性是指产品在规定的时间内完成规定功能的能力。 中科检测可靠性实验中心具备各种光电子器件产品的环境试验能力，为通信设备用的光电子器件提供专业的可靠性试验服务。

光电子器件可靠性试验 试验范围

适用于通信设备用光电子器件，包括激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及其它们的组件。

光电子器件可靠性试验 试验项目

光电二极管及组件的光电特性测试项目： 响应度、量子效率、暗电流、击穿电压、截至频率、光倍增因子、光接收灵敏度、饱和光功率
物理特性测试项目： 内部水汽、密封性、ESD阈值、可燃性、剪切力、可焊性、引线键合强度
机械完整性试验项目： 机械冲击、变频振动、热冲击、光纤完整性试验、插拔耐久性、存储试验、温度循环、恒定湿热、高温寿命、加速老化试验、抗循环潮湿、高温加速老化、恒温试验、变温试验、温度循环

光电子器件可靠性试验 试验标准

GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB 8898-2001音频、视频及类似电子设备安全要求
Bellcore TR-NWT-000870通信设备生产中静电放电的控制
MIL-STD-202G电子器件试验方法
MII-STD-883F 微电子器件试验方法
Telcordia GR-63-CORE 网络设备构建系统要求：物理?；?br/> Telcordia GR-78-CORE 通信产品和设备的物理设计和制造的一般要求
Telcordia GR-326-CORE单模光纤连接器和光纤跳线的一般要求

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