光纤温度循环试验

光纤温度循环试验

中科检测可靠性实验中心具备各种光纤的环境试验能力，为光纤产品提供专业的温度循环试验服务。
我们的服务 专项服务 光纤温度循环试验

光纤温度循环试验 试验背景

温度变化情况下产生的光缆衰减变化通常是由于光纤弯曲和拉伸引起的，是因为光纤的热膨胀系数与光缆加强件和护套的热膨胀系数的差异而引起的。
光纤产品温度循环试验目的是确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和（或）运输过程中可能发生的温度变化环境条件下的适应性能。
中科检测可靠性实验中心具备各种光纤的环境试验能力，为光纤产品提供专业的温度循环试验服务。

光纤温度循环试验 试验范围

A1类多模光纤、B类单模光纤等光纤产品。

光纤温度循环试验 试验程序

1、试验条件
按照详细规范规定，将试样放置在试验箱内，经受规定期间内温度变化。
2、测量
传输特性测量、机械性能测量
3、预处理
如有要求，试样应按照详细规范进行预处理。
4、条件调节
在进行基准测量前应使试验箱和试样稳定在规定的标准大气条件下。按照规定的严酷度调整试验箱的温度和湿度。在最长5 min时间内，平均升温速度应不超过1℃/min。使样品温度达到稳定，并在规定期间内维持该温度和湿度不变。
5、恢复
如果没有特殊要求，试样应在标准大气条件下恢复12 h 以上，但不得超过48 h。详细规范可要求在恢复阶段进行测量，如有此要求，详细规范应规定什么时候，进行哪些方面的测量。

光纤温度循环试验 试验标准

GB/T 15972.52 -2008光纤试验方法规范第52部分：环境性能的测量方法和试验程序 温度循环
IEC60793-1-52：2001 光纤 第1-52部分：测量方法和试验程序-温度循环
GB/T 15972.10-2008光纤试验方法规范 第10部分：测量方法和试验程序 总则
GB/T 15972.40-2008光纤试验方法规范 第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 衰减
GB/T 2423.22-2002电工电子产品环境试验 第22部分 ：试验方法 试验N： 温度变化
GB/T 15972.32-2021 光纤试验方法规范 第32部分：机械性能的测量方法和试验程序 涂覆层可剥性

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