光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验 试验背景
光学和光子学仪器冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学性能受到冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温影响变化的程度。
中科检测可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力,为光学和光子学仪器产品提供专业的冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验等综合环境试验服务。
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光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验 试验范围
所有光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验 试验方法
试样各部分都应达到试验箱(室)温度3K以内才开始试验。对于散热型试样,在温度稳定的试验箱(室)内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始(或终止)暴露周期的时间,试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1 h。
包括:冲击与高温综合试验、碰撞与高温综合试验、冲击与低温综合试验、碰撞与低温综合试验、自由跌落与高温综合试验、自由跌落与低温综合试验
包括:冲击与高温综合试验、碰撞与高温综合试验、冲击与低温综合试验、碰撞与低温综合试验、自由跌落与高温综合试验、自由跌落与低温综合试验
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验 试验标准
GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
DIN ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
BS ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
GB/T 2423.43 电工电子产品 环境试验 第2部分:试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装
GB/T 12085.1光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
GB/T12085.2光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热
GB/T 12085.3光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分:机械作用力
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
DIN ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
BS ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
GB/T 2423.43 电工电子产品 环境试验 第2部分:试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装
GB/T 12085.1光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
GB/T12085.2光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热
GB/T 12085.3光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分:机械作用力
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温