红外探测器温度环境试验

红外探测器温度环境试验

中科检测可靠性实验中心具备各种红外探测器的环境试验能力，为红外探测器产品提供专业的低温试验、高温试验、温度变化试验等环境试验服务。
我们的服务 专项服务 红外探测器温度环境试验

红外探测器温度环境试验 试验背景

温度影响引起装备的故障占各种环境因素引起故障的40%，因此研究温度对产品（装备）的影响尤其重要。
中科检测可靠性实验中心具备各种红外探测器的环境试验能力，为红外探测器产品提供专业的低温试验、高温试验、温度变化试验等环境试验服务。

红外探测器温度环境试验 低温试验

试验目的：确定红外探测器在低温环境条件下使用、贮存及运输的适应性。
试验方法：低温贮存试验、低温工作性能试验、温度突变试验、温度渐变试验

红外探测器温度环境试验 高温试验

试验目的：确定红外探测器在高温环境条件下使用、贮存及运输的适应性。
试验方法：高温贮存试验、高温工作性能试验、温度突变试验、温度渐变试验

红外探测器温度环境试验 温度变化试验

试验目的：使试验样品通过在高低温环境的交替暴露中，经受气温迅速变化的影响，以确定其对贮存运输期间可能遇到的温度变化的适应性。
试验方法：具有规定转换时间的温度变化试验、具有规定温度变化率的温度变化试验。

红外探测器温度环境试验 试验标准

GB/T 15430-1995 红外探测器环境试验方法
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

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