光学仪器振动与高温低温综合试验

光学仪器振动与高温低温综合试验

中科检测可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的等环境试验服务。
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光学仪器振动与高温低温综合试验 试验背景

光学和光子学仪器振动与高温低温综合试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受振动（正弦）与高温、低温的影响时的变化程度。
中科检测可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的等环境试验服务。

光学仪器振动与高温低温综合试验 试验范围

所有光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备）

光学仪器振动与高温低温综合试验 试验方法

试样各部分都应达到试验箱（室）温度3K以内才开始试验。对于散热型试样，在温度稳定的试验箱（室）内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始（或终止）暴露周期的时间，试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1 h。
分为：振动（正弦）与高温综合试验、振动（正弦）与低温综合试验。

光学仪器振动与高温低温综合试验 试验标准

GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-1：2016光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-10：1998光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验
GB/T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验
GB/T 12085.2-2022 光学和光子学 环境试验方法 第2部分：低温、高温、湿热
GB/T 12085.3-2022 光学和光子学 环境试验方法 第3部分：机械作用力
GB/T 2423.35电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验
GB/T 2423.36 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/BFc；散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验
GB/T 2423.43 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法振动冲击和类似动力学试验样品的安装

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